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    薄膜分析测量软件
    作者:未知     来源:北京合能阳光新能源技术     更新时间:2015-08-07 16:03
        薄膜分析测量软件

      软件名称:薄膜分析测量软件
     
      版本语言:英文版
     
      软件类型:硅片薄膜分析测量软件
     
      系统平台要求:windowsXP
     
      版本类型:正式版
     
      产品介绍:
     
      HS-TFCS是一款面向薄膜分析和测量的功能强大且友好的软件。它包含了通用的分析工具用以诠释测量数据,例如确定薄膜堆叠(膜系)的实际物理参数(比如层厚或者材料的光学特性等)。它提供了仿真和精确分析功能用以更好的理解材料参数。HS-TRFS软件具有评估测量和计算误差,创建及最优化测量工艺菜单及减少测量精确性及快速性之间的权衡的时间从而提高产率的特点。
     
      适用范围
     
      ■ 太阳能薄膜产业、厚度测量分析行业
     
      ■ 拥有专用设备而缺乏通用分析软件的研究机构、生产型企业
     
      ■ 需要进行膜厚测量及分析而未采购设备的企业
     
      联系方式
     
      北京合能阳光新能源技术有限公司
     
      联 系  人:肖宗镛
     
      电      话:86 10 60546837-101/104/103/104/105
     
      移动电话: 18610357221
     
      传      真:86 10 60546837
     
      地      址:中国 北京市通州区 北京市通州区工业开发区光华路16号
     
      邮      编:101113
     
      公司主页:
     
      http://www.HenergySolar.com
     
      http://henergysolar.1688.com
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